锡膏测厚仪SN-110 2.5D * 产品简介： 测量原理：非接触式，激光束 测量精度：±0.002mm 重复测量精度：±0.004mm 基座尺寸：324mm×320mm 移动平台：大范围快速定位，微调，电磁锁定 3D扫描行程：10mm 3D扫描驱动：步进伺服驱动，丝杆导轨系统 3D测量：扫描，3D轮廓重组，任意测量 影像系统：高清CCD，640×480 Pixel 移动平台行程：230mm×200mm 移动平台尺寸：320mm×320mm 测量方式：3D测量或2D测量 光学放大倍率：25～110倍（5档可调） 影像大小：600×480 Pixel 电源：220V～50Hz 照明系统：环形LED光源（PC控制亮度）测量光源：可低至5.0μm高精度激光束 系统尺寸：L372mm×W 557mm×H 462mm 测量软件：SH-110-2.5D/SPC2000（Windows2000/XP平台） * 资料下载： 暂无资料 暂无资料 暂无资料 暂无资料 测量软件： SN-110-2.5D视频观察，图像保存，厚度测量，数据记录，背景光，激光亮度控制，面积（方 形、不规则多边形、圆形）/体积/间距（X、Y轴）/夹角测量，可记忆24条生产线/任意数量产品。 S.P.C软件HSPC2000:根据的产品、生产线和日期范围进行数据查询、修改、删除、导出（文本和EXCEL 表）、预览、打印，能统计平均值、较大值、小值、方差、标准差、不良数、不良率、偏度、峰度、Ca、 Cp、Cpk、Pp、Ppk，并可绘制、预览，打印X-BAR管制图和R管制图（其中的管制参数可自行设定）。 测量原理： 非接触激光测度仪由专用激光器产生线型光束，以一定的倾角投射到待测量目标上，由于待测与基板存在高度差，此时观测到的目标和基板上的激光束相应出现断续落差，根据三角函数关系可以用观测到的落差计算出待测目标与周围基板存在高度差，从而实现非接触式的快速测量。 技术参数： 测量原理：非接触式，激光束 测量精度：±0.002mm 重复测量精度：±0.004mm 基座尺寸：324mm×320mm 移动平台：大范围快速定位，微调，电磁锁定 3D扫描行程：10mm 3D扫描驱动：步进伺服驱动，丝杆导轨系统 3D测量：扫描，3D轮廓重组，任意测量 影像系统：高清CCD，640×480 Pixel 移动平台行程：230mm×200mm 移动平台尺寸：320mm×320mm 测量方式：3D测量或2D测量 光学放大倍率：25～110倍（5档可调） 影像大小：600×480 Pixel 电源：220V～50Hz 照明系统：环形LED光源（PC控制亮度）测量光源：可低至5.0μm高精度激光束 系统尺寸：L372mm×W 557mm×H 462mm 测量软件：SH-110-2.5D/SPC2000（Windows2000/XP平台）